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安捷伦Express Test现可兼容全部G200台子和 DCM II、XP压头
2013-12-10 09:39:24 作者:sales10 来源: 浏览次数:0 文字大小:【】【】【

    安捷伦科技公司日前宣布其快速压痕测试 Express Test 选件荣获全球百大科技研发奖,现可兼容全部 Nano Indenter G200 台子、DCM II 和 XP 压头。创新 Express Test 技术可实现全球最快速的纳米压痕,以进行力学性能成像。

    Express Test 能够独一无二地与安捷伦畅销的 Nano Indenter G200 配合使用,提供适合多种材料的高精度数据。Express Test 所提供的方法非常适合金属、玻璃、陶瓷、结构型高分子、薄膜和低介电材料等多种仪表压痕应用。Express Test 可在 100 秒内在 100 个不同的表面位置执行多达 100 次的纳米压痕测量。

    对于科学和工业部门的工程师来说,Agilent Express Test 可提供前所未有的速度、卓越的通用性和即点即拍的简便性。Express Test 使 Nano Indenter G200 能够在载荷控制或位移控制模式下工作。测试过程很简单:即点即拍。

    使用 Express Test,用户可以在几分钟内完成压头的面积函数校准,使用稳健统计快速测试杨氏模量和硬度,以及定量的力学性能成像。安捷伦性能领先的 NanoSuite 软件允许用户自动生成直方图和 3D 力学性能图形。图形和支持数据可轻松导出到 Microsoft Excel 表格。

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